Invitan al curso de posgrado independiente: “Fundamentos y aplicaciones de la microtomografía de rayos X”, que será dictado por el Dr. German Alfredo Tirao y la Dra. Cristina Marilin Calo
La carga horaria de esta propuesta es de 60 horas y está destinado a estudiantes avanzados/as que estén cursando el último año de su carrera o egresado/a de carreras como física, geología, arqueología, ingeniería, biología química, odontología, agronomía u otra carrera que necesite de esta técnica para llevar a cabo trabajos de investigación.
Este curso se dictará desde el lunes 14 al viernes 18 de octubre de 9:00 a 17:00 h en el EEA INTA Montecarlo (Av. el Libertador 2472, Montecarlo, Misiones)
Contenidos Mínimos: Imágenes de rayos X. Ley de Lambert-Beer. Fuente de contraste. Resolución espacial. Procesamiento digital. Filtrado y suavizado. Segmentación y Detección de bordes. Fundamentos de la tomografía de rayos X. Métodos de reconstrucción. Criterios de calidad y artefactos. Índice de Hounsfield y formato DICOM. Aplicaciones. Diferentes equipamientos. Software pagos vs gratuitos/libres. Procesamiento analítico de microtomografías. Uso del software ImageJ: imágenes en diferentes formatos, conceptos básicos de preprocesamiento, aplicación de filtros de imagen digital. Técnicas de modelado y visualización 3D. Morfometría geométrica, plugins y herramientas integradas para análisis cuantitativo y cualitativo. Conceptos básicos del software 3D Slicer y propios del equipo.
Inscripción: enviar formulario con datos al correo electrónico gtirao@unc.edu.ar con copia a figueredo.elsa@inta.gob.a , winck.rosa@inta.gob.ar. Cupo de hasta 20 participantes
Arancel: $100.000, para estudiantes de posgrado (presentar certificación); $160.000 para organizaciones privadas e independientes y u$180 dólares para estudiantes extranjeros.
Descarga aquí la ficha de inscripción al curso
